一、晶振使用現狀分析
　　時鐘晶振幾乎覆蓋了所有無線通訊終端設備中，其溫度變化直接影響晶振的輸出頻率，導致通訊信號丟失或穩定性變差，嚴重影響用戶的體驗。為解決此類問題，國際主流公司開始采用僅集成溫度傳感器和石英晶體的諧振器(TSXO)來替代TCXO晶振。無線通訊芯片通過測量TSXO的熱敏電阻估計諧振器的振蕩頻率，實現對時鐘頻率的精確預估。不僅使時鐘源器件在成本，體積和功耗上都得到降低，還使電子設備能夠在快速溫度變化的環境下正常工作。
　　實際上石英晶體諧振器并不嚴格遵守理想的溫度與頻率特性曲線。晶振具體工作在溫度上升階段還是溫度下降階段，會導致晶振即使處于同一溫度下，頻率也會有所不同，即表現為熱滯。并且在有些溫度點會出現頻率的突然跳變現象。當諧振器被加熱或冷卻時，由于熱傳導在溫度傳感器和石英晶體間的滯后， 以及其它因素，實際測得的溫度頻率特性中還包含假象熱滯。
　　我司研制出能夠快速測量晶振或諧振器溫度和頻率的專門儀器和相配套的軟件工具，來幫助客戶實現TSXO的各種測試和應用，實現對諧振器快速全面的溫頻特性測量，給出諧振器的溫頻特性；或根據溫頻特性，對晶振進行進行分類。
　　二、功能與優勢
　　1.測量精度：每毫秒測量一次，精度 2ppb
　　2.溫度測量范圍：溫頻特性數據-40~85 ℃，溫度變化率可達 5℃/s
　　3.測試周期：60秒完成測試和標定
　　4.溫頻特性數據：微跳變點和熱滯數據以及真實溫度頻率特性的數據
　   三、總結
       我司自主開發的高精度溫頻測量儀器、軟件工具和測試裝置，可以滿足對石英晶體諧振器和晶振的溫度頻率特性的快速高精度測量和標定等需求。產品可以在線高速測量溫度和頻率；溫度和頻率分辨率可分別達到0.004度和2ppb；實時顯示溫頻數據和曲線，并記錄存儲測試數據；可以進行多路同時監測。第一代溫頻測試裝置可以在1分鐘內完成對64路晶振溫頻特性采集分析、實時檢測和判斷頻率微跳變的工作。產品包括晶振快速高精度溫頻測量儀器，晶振溫頻特性軟件工具，熱敏晶體溫度補償的集成電路硬件IP設計服務和其他客制化服務等。  
   展品簡介及尺寸（附圖）

1.高精度溫頻測量儀器(見附圖)，

用途：

1) 軟件工具和測試裝置可以滿足對石英晶體諧振器和晶振的溫度頻率特性的快速高精度測量和標定等需求。

2) 高速在線測量溫度和頻率：溫度和頻率分辨率可分別達0.004度和2ppb;顯示溫頻數據和曲線;并可多路同時監測。第一代溫頻測試裝置可以在1分鐘內完成64路晶振溫頻特性采集分析工作，實時檢測和判斷頻率微跳變。

3) 產品包括晶振快速高精度溫頻測量儀器，晶振溫頻特性軟件工具，熱敏晶體溫度補償的集成電路硬件IP 設計服務和客戶定制服務等。

 2. 高速動態頻率測試儀器

標準測試平臺和定制測試平臺。標準測試平臺的接口可以支持全系列(封裝，振蕩電路)石英晶體諧振器，全系列晶振?？蛻舳ㄖ茰y試平臺可以支持客戶特殊需要的被測器件類型。除了晶體頻率測量之外，可以用于關于頻率輸出信號的高速采集分析，以及溫頻數據的高速采集。

該儀器可以比較寬的溫度范圍之內進行溫頻特性分析，溫度精度為0.004℃下在1min內完成全溫度范圍(-40至85度)溫頻數據的采集。

用途：

1) SoC設計當中，可以通過高速動態頻率測試儀采集晶振頻率特征，并在線分析不同環境溫度下的晶振特征;

2)對IC/電子實驗室，對晶振進行快速的溫頻分析，進行晶振篩選;

2) 在電生化實驗中，可以對不同溫度下的頻率輸出進行高速采集分析 ;

4)對某些溫頻敏感芯片(例如：加速傳感器、陀螺儀、壓力傳感器等)，可以進行溫度與頻率高密采樣分析